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LQY离子迁移数测定装置性能稳定,操作简便

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 LQY离子迁移数测定装置简介:
    用希托夫法测定CuSO4水溶解中Cu2+的迁移数是物理、化学中的一门重要实验,通过实验可以进一步了解迁移数的含义,希托夫法测定迁移数的原理和方法,以及明确测定离子迁移数时与哪些因素有关。
    LQY离子迁移数测定装置为实验提供了精良的硬件条件,该LQY离子迁移数测定装置性能稳定,操作简便,尤其适合教学实验。
    LQY离子迁移数测定装置是评价电子产品或元件的绝缘可靠性的一种测试方法,将样品置于高温高湿度的环境中,并在相邻的两个绝缘网络之间施加一定的直流电压(偏置电压),在长时间的测试条件下,检测两个网络之间是否有绝缘失效。实践证明,将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中,并在线路板上焊接电缆线,施加偏置电压,然后每隔一段时间,将PCB从环境试验箱中取出,进行绝缘电阻测试,这种间断式的测试方法,会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将PCB从环境试验箱中取出,PCB会变得干燥,从而导致绝缘电阻的上升,另一方面,当PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时,离子迁移可能随时发生。
    有效的PCB离子迁移测试,需要将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中,并在线路板上焊接电缆线,引出至环境试验箱外的有关测试设备上,以在线路板上施加促进离子迁移发生的偏置电压和进行绝缘电阻测试,同时能实时检测 PCB上的泄漏电流。

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